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膜厚计LU-200
日本KETT膜厚计LU-200详细技术指标：
膜厚计LU-200
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测定方法 |
超声波反射式 |
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测定对象 |
树脂、玻璃、金属等基体上的涂镀层 |
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测定范围 |
10～700um |
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测定精度 |
<50um±2um >50um±4% |
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分辨率 |
1um |
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统计功能 |
测试数/标准偏差
最大值/最小值/平均值 |
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信号输出 |
RS232标准接口 |
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显示方式 |
LCD数显 |
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操作面板 |
密封防水按键 |
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附属品 |
铁基体/校正标准片/测头/电池曲面支架/皮套/说明书 |
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电源 |
5#碱性电池×6个 |
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体积 |
本机120(W)×250(D)×55(H)
测头￠63×85(H) |
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重量 |
本机800g 测头220g |
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 商品搜索 |
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